國(guo)內SF6負荷開關技術條件，一般規定主回路電阻(zu)(zu)≤65u Ω，而(er)國(guo)外同(tong)類產品≤42u Ωm.影響(xiang)回路電阻(zu)(zu)值存在(zai)(zai)原因(yin)是動靜觸頭之(zhi)間(jian)的(de)夾緊力(li)的(de)大小(xiao)和(he)一致性(xing)，一般夾緊力(li)在(zai)(zai)160N-190N之(zhi)間(jian),會比較好(hao)。而(er)在(zai)(zai)實(shi)際的(de)操(cao)(cao)作使用過程中，受到(dao)操(cao)(cao)作和(he)使用環境的(de)影響(xiang)，動靜觸頭的(de)夾緊力(li)會偏離(li)正(zheng)確的(de)范圍值。

   在(zai)(zai)壓(ya)(ya)(ya)(ya)緊彈(dan)簧壓(ya)(ya)(ya)(ya)力(li)的(de)(de)作用下，形成動靜觸(chu)(chu)頭的(de)(de)良好接(jie)觸(chu)(chu)。觸(chu)(chu)頭壓(ya)(ya)(ya)(ya)力(li)越大，接(jie)觸(chu)(chu)就越好，通過電流時接(jie)插(cha)件(jian)的(de)(de)發熱就越少，從而實現良好的(de)(de)導電性能(neng)。如觸(chu)(chu)頭壓(ya)(ya)(ya)(ya)力(li)過小，接(jie)觸(chu)(chu)電阻增大，在(zai)(zai)長期電流的(de)(de)作用下，觸(chu)(chu)點(dian)會出現過熱、觸(chu)(chu)頭氧化和(he)壓(ya)(ya)(ya)(ya)緊彈(dan)簧退(tui)火等現象，這又會引至(zhi)觸(chu)(chu)點(dian)的(de)(de)接(jie)觸(chu)(chu)變壞(huai)，如此(ci)惡(e)性循(xun)環，直(zhi)至(zhi)觸(chu)(chu)頭燒毀(hui)。因此(ci)觸(chu)(chu)頭壓(ya)(ya)(ya)(ya)力(li)應(ying)控(kong)制在(zai)(zai)合(he)適的(de)(de)范(fan)圍(wei)內。

  針對目(mu)前(qian)發供電(dian)系統的(de)(de)(de)(de)檢修現(xian)狀，本(ben)款充電(dian)便攜(xie)(xie)式觸(chu)(chu)(chu)(chu)頭(tou)壓(ya)力(li)(li)測量(liang)(liang)儀（又(you)稱SF6負荷(he)開關(guan)動觸(chu)(chu)(chu)(chu)頭(tou)夾緊力(li)(li)測試儀），它只要(yao)將設備測試模擬觸(chu)(chu)(chu)(chu)頭(tou)的(de)(de)(de)(de)傳感器(qi)伸進每(mei)對觸(chu)(chu)(chu)(chu)指(zhi)接觸(chu)(chu)(chu)(chu)位置，就能(neng)實時(shi)顯示出(chu)觸(chu)(chu)(chu)(chu)指(zhi)此(ci)時(shi)的(de)(de)(de)(de)接觸(chu)(chu)(chu)(chu)壓(ya)力(li)(li)。有(you)效解決了測量(liang)(liang)觸(chu)(chu)(chu)(chu)指(zhi)壓(ya)力(li)(li)的(de)(de)(de)(de)一大難題。本(ben)款充電(dian)便攜(xie)(xie)式觸(chu)(chu)(chu)(chu)頭(tou)壓(ya)力(li)(li)測量(liang)(liang)儀（SF6負荷(he)開關(guan)動觸(chu)(chu)(chu)(chu)頭(tou)夾緊力(li)(li)測試儀）也可用(yong)于SF6負荷(he)開關(guan)開關(guan)制造廠對觸(chu)(chu)(chu)(chu)指(zhi)壓(ya)力(li)(li)的(de)(de)(de)(de)檢驗(yan)；改變(bian)壓(ya)力(li)(li)傳感器(qi)的(de)(de)(de)(de)形狀也能(neng)測量(liang)(liang)SF6負荷(he)開關(guan)的(de)(de)(de)(de)觸(chu)(chu)(chu)(chu)指(zhi)壓(ya)力(li)(li)。